Ученые смогли точно измерить оптические константы кристалла Bi2Te3. Полученные результаты ускорят разработку фотонных устройств на его основе и раскрывают его потенциал для создания высокоэффективных оптических устройств.
Работа опубликована в журнале Applied Physics Letters.
Кристалл теллурида висмута (Bi2Te3) обладает уникальными оптическими свойствами: сверхвысоким показателем преломления (n > 6) и анизотропией, то есть оптические свойства по различным направлениям отличаются. Кроме того, он является ван-дер-ваальсовым топологическим изолятором. Это значит, что при приложении внешнего напряжения электрический ток пойдет не в объеме материала, а по поверхности благодаря топологически защищенным поверхностным состояниям. Сам материал состоит из слоев, связанных между собой силами ван дер Ваальса, аналогично тому, как графит состоит из слоев графена. Теллурид висмута интересен в качестве платформы для нового поколения метаповерхностей с компактными размерами и высокой производительностью. Удивительно, но точное значение показателя преломления кристалла до настоящего времени не было установлено — в различных научных работах его значения отличались почти в 2 раза. Физики смогли определить причину наблюдаемого расхождения и устранить ее.
Об этой работе подробно рассказывает журнал «За науку».
Работа опубликована в журнале Applied Physics Letters.
Кристалл теллурида висмута (Bi2Te3) обладает уникальными оптическими свойствами: сверхвысоким показателем преломления (n > 6) и анизотропией, то есть оптические свойства по различным направлениям отличаются. Кроме того, он является ван-дер-ваальсовым топологическим изолятором. Это значит, что при приложении внешнего напряжения электрический ток пойдет не в объеме материала, а по поверхности благодаря топологически защищенным поверхностным состояниям. Сам материал состоит из слоев, связанных между собой силами ван дер Ваальса, аналогично тому, как графит состоит из слоев графена. Теллурид висмута интересен в качестве платформы для нового поколения метаповерхностей с компактными размерами и высокой производительностью. Удивительно, но точное значение показателя преломления кристалла до настоящего времени не было установлено — в различных научных работах его значения отличались почти в 2 раза. Физики смогли определить причину наблюдаемого расхождения и устранить ее.
Об этой работе подробно рассказывает журнал «За науку».
Центр фотоники и двумерных материалов МФТИ включает несколько лабораторий и является базовой организацией кафедры физики и технологии наноструктур ЛФИ МФТИ.
Кафедра в Телеграм
Кафедра в Телеграм